GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫，推薦使用科賽德品牌高低溫試驗(yàn)箱
前言
GB/T 2423.1是GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的第1部分.CB/T 2423標(biāo)屋的組成部分見資料性附景NA.本部分等同采用IEC 60068-2-12007/環(huán)境試驗(yàn)第2-1 部分式驗(yàn)試驗(yàn)A.低源1(英文版)。本部分與IEC 60068-2-12007相比.主要做了下列編輯性想改:
本部分的名稱改為?！峨姽る娮赢a(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分，試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低盟):“本標(biāo)在”司改為“本部分”:
刪除丁IEC 60068-2-12007前言;
刪除了LEC 60068-2-1.2007引吉.將其內(nèi)容特化為增加的要料性附錄NB的內(nèi)容:增加了資料性附錄”GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”(見附錄NA):
一增加了資料性附錄“試驗(yàn)A.低置和試驗(yàn)B.高國(guó)的分類代號(hào)小寫字母之間的關(guān)系”(見附景NB):
一刪除了第1章第1段中的“對(duì)于非做熱試驗(yàn)樣品。”
第1章中最后兩段的內(nèi)容移到4.1中:
一4.3標(biāo)題“非防熱試驗(yàn)樣品”改為”非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)”:
–6.2最后一段原文為正文,本部分改為注。
為情晰起見,上述壁改已在正文相應(yīng)位量加了腳性。
本部分代替GB/T 2423.1- 2001(電工電子產(chǎn)品環(huán)墻試驗(yàn)第2 部分:試驗(yàn)方法試險(xiǎn) A:低面)，與之相比，主要變化如下，
刪除了試驗(yàn)AB:非敷熱試驗(yàn)樣品盟度突室的低盟試驗(yàn):一刪除了附量A.陽錄 B.附錄C.用景D.附景E
增加了試驗(yàn)Ae:最區(qū)試驗(yàn)樣品溫度車安的任溫試驗(yàn)一 試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本部分的財(cái)錄NA.時(shí)錄NB為警料性附量。
本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委國(guó)會(huì)(SAC/TC8)提出并日0。本部分由廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草。本部分主要起事人:強(qiáng)志勇，
本部分所代巷標(biāo)準(zhǔn)的歷衣版本漫布情況為:
-GB/T 2423. 1-1981.CB/T 2423.1-1989.GB/T 2423.1-2001.

1范圍
GB/T 2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和數(shù)熱試驗(yàn)樣晶。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異”,增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。
本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件，設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用,運(yùn)輸或貯存的能力。本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品附溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力,在這種情況下,應(yīng)采用GB/T 2423.22.
本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種:一非膠熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):
●試驗(yàn)Ab,溫度漸變。-散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):
●試驗(yàn)Ad,溫度新變; .
●試驗(yàn)Ae,溫度漸變,試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程酒電。
本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分然面,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不性日期的引用文件,其最新版本適用于本部分，
GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分:總則(GB/T 2-199 IEC 606-1.19888GB/T2422電工電子產(chǎn)品環(huán)境試險(xiǎn) 術(shù)語(GB/T 2422 -1995,q9v9 IEC 60685-2:2 1990
GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) N:溫度交化(GB/T 2423. 22-2002,IEC 6058-14;1841DD)
GB/T2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低濫試酸導(dǎo)則(GB/T 2424. 1- 205,1,C0 608-1:1974,IDT)
GB/T 2424.5電工電子產(chǎn) 晶環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(GB/T 2424. 5-2006,IEC 608-3-5.2001,DT)
GB/T2424.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn) A和試驗(yàn)B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量(GB/T 2424. 7- 2006,10 606837; 20IDT)0
IEC 60721(所有部分)環(huán)境條件分級(jí)

3術(shù)語和定義
GB/T 2422確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。
1) EC 68220原文在句前有“對(duì)于非微熱試驗(yàn)樣品?！?/p>

3.1
工作空間低氣流速度low air velocity in the working space
指工作空間的調(diào)節(jié)氣流速度,能維持設(shè)定的條件,但也足夠低，以致試險(xiǎn)樣品上任意點(diǎn)的溫度不會(huì)由于空氣循環(huán)的影響而降低5K以上(如果可能.不大于0.5 m/a).
3.2
工作空間高氣流速度high air veloclty in the worting space
指工作空間的調(diào)節(jié)氣流速度.為了維持設(shè)定的條件.同時(shí)使得試驗(yàn)樣品上任意點(diǎn)的溫度由于空氣循環(huán)的影響而降低5K以上。

4 非散熱試驗(yàn)樣晶與散熱試驗(yàn)樣品試喻方注應(yīng)用對(duì)比
4.1總則
濕度試驗(yàn)怕的制造和確認(rèn)按照GB/T 2424.5 和GB/T 2424.7的規(guī)定進(jìn)行。”
高溫和低濕試臉導(dǎo)則見GB/T 2424. 1.總則見GB/T 2421.”
只有在以下情況下,才認(rèn)為試驗(yàn)樣品是做熱的;當(dāng)溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)(見GB/T 2421中相應(yīng)內(nèi)容),在自由空氣的條件下(例如,低氣流速度循環(huán))測(cè)量的試驗(yàn)樣品表面最熱點(diǎn)的溫度超過試驗(yàn)樣品周圖空氣回度5K以上。當(dāng)相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行貯存或運(yùn)輸試驗(yàn).或未指定在試驗(yàn)期問施加負(fù)載,低濕試驗(yàn)Ab是適用的。

4.2工作空同間是高氣速或是低氣流速度的確定
在測(cè)量和試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下《見GB/T 2421》.以及氣流速度く0.2 m/s,按照試驗(yàn)的低溫條件下的規(guī)定給試驗(yàn)祥品通電或加電氣負(fù)載。
當(dāng)試驗(yàn)樣晶的溫度達(dá)到疆定。應(yīng)使用合適的監(jiān)測(cè)裝置測(cè)量試驗(yàn)樣晶上或其周期若干個(gè)有代表性的位置的溫度。之后,每一個(gè)位置的溫升應(yīng)予以記錄。

開啟試驗(yàn)箱的通風(fēng)裝置使空氣循環(huán),當(dāng)溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí).重?cái)鄿y(cè)量上述位置處的溫度。如果此改測(cè)得的溫度與上次無空氣流動(dòng)時(shí)測(cè)得的溫度相差超過5 K(或相關(guān)規(guī)范規(guī)定的其他值).應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中記錄這些重度值.并且認(rèn)為該試驗(yàn)箱具有高氣流速度循環(huán)。熱后始試驗(yàn)樣品新電,并去掉任何負(fù)級(jí)條件。
4.3也散熱試驗(yàn)樣品的試的
在溫度漸空試驗(yàn)Ab中,試驗(yàn)樣品放人處于試臉主濕度的試驗(yàn)箱中。然后慢恒降低試驗(yàn)箱中溫度，防止由于晶度改空而對(duì)試驗(yàn)樣品戶生有害作用。建議采用高氣流速度循環(huán),因?yàn)檫@樣可以減少達(dá)到溫度穩(wěn)定所費(fèi)要的時(shí)間。
4.4散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)”
試驗(yàn)Ad和試驗(yàn)Ae描述了散熱試驗(yàn)樣品在低氣流速度國(guó)環(huán)下的試驗(yàn)程序。這允許試驗(yàn)樣晶的局部發(fā)路點(diǎn)在其內(nèi)部擴(kuò)展的情況。類似于安裝后的產(chǎn)“品在應(yīng)用中發(fā)生的情況。4.5溫度監(jiān)控
應(yīng)使用溫度傳感器來測(cè)量試驗(yàn)箱軍的空氣溫度.盟座傳當(dāng)器的位置高試驗(yàn)樣品的距離應(yīng)確保其受熱擴(kuò)散的影響可想略不計(jì)。應(yīng)適當(dāng)生意以避免熱輻射影響這些測(cè)量,更多信息見GB/T 2424. 5.4.6包裝
對(duì)于貯存和運(yùn)輸試驗(yàn),設(shè)備可以帶包裝進(jìn)行試驗(yàn)。然而.由于本部分規(guī)定的低試驗(yàn)是穩(wěn)志試驗(yàn)，設(shè)備最終將穩(wěn)定在試驗(yàn)箱組度,所以,虛去掉包裝進(jìn)行試驗(yàn),除非相關(guān)規(guī)范要求管包裝.或者發(fā)熱元件是
5試驗(yàn)描述
5.1 總則
試驗(yàn)Ab.試驗(yàn)Ad和試驗(yàn)Ae是相似的,差異見5.2.2.5.3.2和5.4.2.從第6章開始的其他都分是這些試驗(yàn)共同的。試驗(yàn)著內(nèi)的溫度交化速率不應(yīng)超過1 K/min(不超過s min時(shí)間的平均值)。相關(guān)規(guī)范虛規(guī)定試驗(yàn)樣品試驗(yàn)時(shí)的功能要求。
應(yīng)注意試驗(yàn)樣品的任何冷卻裝置要符合相關(guān)規(guī)范的要求。
5.2 試驗(yàn)Ab;非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)5.21日的
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行非教熱試驗(yàn)樣品的低溫試臉，試驗(yàn)樣品在低溫條件F放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定.
5.2.2概述
將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室品度的試驗(yàn)箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)惹規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度.當(dāng)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。對(duì)于試驗(yàn)時(shí)需要通電運(yùn)行的試酸樣品(即使它們不屬于散熱試驗(yàn)樣品),應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后通電,根據(jù)美要進(jìn)行功能檢測(cè).這種情況下，可能還需要一段時(shí)間達(dá)到溫度穩(wěn)定然后試驗(yàn)樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時(shí)間，試驗(yàn)樣品通常在非工作狀態(tài)F進(jìn)行試驗(yàn)。本試驗(yàn)通常采用高氣德速度循環(huán)。
5.3 試驗(yàn)Ad.散鷓試驗(yàn)樣品盟度漸變的低溫試驗(yàn)一 試驗(yàn)樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電
5.3.1目的
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)梆品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.3.2概述
如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)前使否滿足低氣流速度的要求。路試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中然后轉(zhuǎn)溫度調(diào)節(jié)到養(yǎng)合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)醋等極溫度。

給試驗(yàn)樣品通電成加電負(fù)載。檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)距的要求，試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作幅鮮和費(fèi)載條件(如可行時(shí)》處于運(yùn)行狀態(tài)。
當(dāng)試驗(yàn)樣品的盟度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下墨露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的特續(xù)時(shí)間。本試腔通常采用征氣直速度循環(huán)。
5.4試驗(yàn)A:觸熱試驗(yàn)桿品溫度漸空的低溫試驗(yàn)一試 驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程速電
5.4.1 目的

本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行教熱試胸樣品的低品試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到國(guó)標(biāo)規(guī)定，并且要求試驗(yàn)桿品在整個(gè)試驗(yàn)過程中通電。5.4.2概述
如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)?zāi)芊駶M足低氣流速度的要求。將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)箱中,給試驗(yàn)樣品通電并按需要進(jìn)行功能檢測(cè)(見5.4.3).
然后將溫度調(diào)節(jié)到樣合相關(guān)規(guī)高規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到檢定后。在該條件下券器到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。
本試驗(yàn)通常采用低氣流速度著環(huán)，
5.4.3 曾試驗(yàn)樣品酒電
然后單試驗(yàn)樣品酒電成扣電費(fèi)救，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗(yàn)樣品應(yīng)線用相美規(guī)范規(guī)定的工作暢環(huán)相負(fù)載條件(如可行時(shí)》處于運(yùn)行狀態(tài)。

6試驗(yàn)程序
6.1性能確認(rèn)
GB/T 2424.5始出了溫度試哈著的性的確認(rèn)指毒。GB/T 2424.1給出了試驗(yàn)A和試驗(yàn)B的一般操作指南。
與散熱試驗(yàn)樣品的尺寸和數(shù)量相比.試驗(yàn)箱應(yīng)該足夠大.
6.2工作空間
試驗(yàn)樣品應(yīng)能完全容納入試驗(yàn)如的工作空間內(nèi)。
穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),德向試檢樣晶的空氣面虞應(yīng)處于試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)溫度的士2 K范圍內(nèi)。工作空間的空氣溫度應(yīng)按照4.5來測(cè)量.
當(dāng)由于試驗(yàn)幫尺寸的原四,不斷懂待上述容整時(shí),容差可以就寬。戰(zhàn)驗(yàn)溫度大于等于一特C時(shí)為土3 K;試驗(yàn)
溫度大平等手-5 C.但小于-25 C為5K。當(dāng)果用了上建容遊,期雇在試驗(yàn)報(bào)告中指明.”6.3熱輻射
應(yīng)盡可能限制試驗(yàn)樣晶通過熱輻射方式傳熱的能力,這通常是采取遣擋試驗(yàn)樣品的發(fā)熱成冷卻元件。以及確保構(gòu)成試驗(yàn)箱內(nèi)壁各部件的酒度與調(diào)曹空氣的國(guó)度無明顯差異的方式來實(shí)現(xiàn)。
6.4帶人工冷卻裝 置的試驗(yàn)樣品
相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定試驗(yàn)樣品的冷卻介質(zhì)的特性。當(dāng)冷卻介質(zhì)是空氣時(shí),應(yīng)姓就使空氣不受到污染,非保持足夠干燥.避免潮混方面的間題.
6.5安裝
試驗(yàn)樣品安裝和連接時(shí)的熱傳導(dǎo)和其他相關(guān)特性應(yīng)在有關(guān)規(guī)范中規(guī)定。當(dāng)試驗(yàn)樣品使用時(shí)是安裝在特定的裝置中時(shí),在試驗(yàn)時(shí)應(yīng)使用這些裝置.
6.6 嚴(yán)酷等級(jí)
相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定由溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間表示的試險(xiǎn)嚴(yán)酷等級(jí),嚴(yán)酷等飯應(yīng):
a)從6.6.1和6. 6.2所給的數(shù)值中選取;
b)從已知的環(huán)境得 出,如果該環(huán)境給出顯著差異的數(shù)值:
c)引自其他知名的相關(guān)數(shù)署源(側(cè)如IEC 60721).6.6.1 溫度

6.6.1 溫度
●-65度
●-55度
●-50度
●-40度
●-33度
●-25度
●-20度
●-10度
●-5度
●+5度
6.6.2持續(xù)時(shí)間
●2h
●16h
●72h
●96h

當(dāng)本試驗(yàn)方法結(jié)合耐久性和可掌性相關(guān)的試驗(yàn)使用時(shí).應(yīng)注意相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范給出的關(guān)于此類試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的特定建議。
6.7預(yù)處理
預(yù)處理按相關(guān)規(guī)范的要求進(jìn)行。
6.8初始檢測(cè)
試驗(yàn)樣品的初始狀態(tài)可通過目梘檢查和(或)按相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行功能檢測(cè)獲得。
6.9條件試驗(yàn)
試驗(yàn)樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴P至規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。
對(duì)于試驗(yàn)樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的例外情況,試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品通電時(shí)開始計(jì)算的。典型地,這種情況是由那些具有長(zhǎng)時(shí)間工作循環(huán)的樣品引起的。
6.10中間檢測(cè)
相關(guān)規(guī)范可能要求在條件試驗(yàn)中間或條件試驗(yàn)結(jié)束時(shí)（試驗(yàn)樣品仍在試驗(yàn)箱中）進(jìn)行加負(fù)載和（或）測(cè)量。如果要求進(jìn)行這種測(cè)量，相關(guān)規(guī)范對(duì)這種測(cè)量的內(nèi)容及時(shí)間間隔進(jìn)行規(guī)定。對(duì)于這種測(cè)量，試驗(yàn)樣品不應(yīng)移出試驗(yàn)箱。
注：如果要求知道某種試驗(yàn)樣品在規(guī)定的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間結(jié)束之前的性能，應(yīng)該為每一不同的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間準(zhǔn)備一個(gè)單獨(dú)批次的試驗(yàn)樣品，每一批次的樣品應(yīng)單獨(dú)進(jìn)行恢復(fù)和最后檢測(cè)。
6.11 最后的線性升溫
如果試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)期間保持在運(yùn)行狀態(tài) 或負(fù)載條件下，應(yīng)在溫度上升前斷電或卸掉負(fù)載，但試驗(yàn)Ac除外，因?yàn)樵囼?yàn)要求試驗(yàn)樣品在整個(gè)恢復(fù)期間保持通電運(yùn)行狀態(tài)。
當(dāng)規(guī)定的試驗(yàn)持續(xù)期結(jié)束時(shí)，試驗(yàn)樣品應(yīng)保持在試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將溫度慢慢升至試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)條件的溫度偏差范圍內(nèi)。試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化應(yīng)不超過1K/min（不超過5min時(shí)間的平均值）

6.12 恢復(fù)
試驗(yàn)樣品應(yīng)在試驗(yàn)箱內(nèi)經(jīng)過恢復(fù)過程或其他合適過程，應(yīng)采取合適的步驟按要求去除水滴，并不損害試驗(yàn)樣品。
試驗(yàn)樣品在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下進(jìn)行恢復(fù)，恢復(fù)時(shí)間應(yīng)足夠使溫度達(dá)到穩(wěn)定，至少1h。
如果相關(guān)規(guī)范要求，試驗(yàn)樣品應(yīng)在恢復(fù)期間連續(xù)通電或加載并測(cè)量。
如果上述標(biāo)準(zhǔn)條件不適合持檢測(cè)的試驗(yàn)樣品，相關(guān)規(guī)范可要求其他的恢復(fù)條件。
6.13 最后檢測(cè)
應(yīng)對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行目視檢查以及相關(guān)規(guī)范要求的性能檢測(cè)。
7 相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息
當(dāng)相關(guān)規(guī)范包含試驗(yàn)A：低溫時(shí)，應(yīng)給出下列適用項(xiàng)目的細(xì)節(jié)；
a)試驗(yàn)類型；
b）預(yù)處理；
c)初始檢測(cè)；
d）安裝和支撐的詳細(xì)描述；
e）試驗(yàn)樣品（包含冷卻系統(tǒng)）在條件試驗(yàn)期間的狀態(tài)；
f)嚴(yán)酷等級(jí)，即溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間
g）溫度變化速率；
h）條件試驗(yàn)期間的測(cè)量和（或）加負(fù)載；
i）恢復(fù)（如果是非標(biāo)準(zhǔn)條件）
j）最后檢測(cè)；
K）供需雙方同意的對(duì)試驗(yàn)程序的任何偏離；
i)不能獲得低氣流速度時(shí)（見4.2）的溫度差異；